EMID 1M电磁干扰去耦夹用于电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(GB/T 17626.4、IEC 61000-4-4)中的干扰信号去耦,可以将瞬变脉冲群信号衰减20dB以上
EMID 1M电磁干扰去耦夹用于电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(GB/T 17626.4、IEC 61000-4-4)中的干扰信号去耦,可以将瞬变脉冲群信号衰减20dB以上。也可用于1MHz以上干扰信号的衰减，衰减系数大于10 dB(与信号频率有关)。本产品采用卡扣式结构，可以直接套在待去耦的线缆上，使用方便。同时去耦夹还具有与去耦线缆物理隔离的特点。
| 技术参数 | |
| 电快速瞬变脉冲群衰减系数 | ≥20 dB |
| 可通过线缆直径 | 38 mm |
| 尺寸 | 520 mm(长)×130 mm(宽)×120 mm(高) |
| 工作温度 | 0℃~65℃ |
| 重量 | 7.5 kg |
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