Chroma 19501-K 局部放电测试仪将交流耐压测试（Hipot Test）与局部放电（Partial Discharge，PD）侦测功能内置在一台单机中，提供 0.1kV~10kV 的交流电压输出，漏电流测量范围为 0.01µA~300µA，局部放电侦测范围为 1pC~2000pC，是针对高压半导体元件与高绝缘材料测试应用而设计与开发的。 

Chroma 19501-K 局部放电测试仪的产品设计符合 IEC60270-1 法规，针对高电压试验技术中对局部放电测试的要求，采用窄频滤波器（Narrow-band）测量技术进行 PD 放电量测量，并

将测量结果以直观数值（pC）显示在屏幕上，让使用者清楚明了待测物测试判定结果。 

在产品设计上，除了符合 IEC60270-1 之外，同时也符合光耦合器 IEC60747-5-5 与 VDE0884 法规要求，将 IEC60747-5-5 法规的测试方法内置在仪器内部，满足光耦合器产品生产测试需求，并为使用者提供便利的操作界面。 

在生产线上执行高压测试时，如果待测物未能正确且良好地连接测试线，将导致测试结果失败甚至出现漏测的风险，因此在测试前确保待测物与测试线良好连接是非常重要的。Chroma 独特的高压接触检查功能（High Voltage Contact Check：HVCC）是利用 Kelvin 测试方法针对高绝缘能力的元件，在高压输出时同步进行接触检查，提高测试有效性与生产效率。 

当固体绝缘物中含有气隙或杂质混合在绝缘层时，在额定工作高压状态下，由于较高的电场强度集中于气隙而产生局部放电（Partial Discharge），持续的局部放电会长期劣化周围绝缘材料，从而影响电气产品的长期可靠性，并引起安全事故。 

应用于电源系统的安规元件，如光耦合器，考虑到如果元件长时间发生局部放电会对绝缘材料造成破坏，进而发生绝缘失效的情况，从而引发使用者人身安全问题；因此，在 IEC60747-5-5 法规中提及，在生产过程中（Routine test）必须 执行局部放电（Partial discharge）检测，在更大绝缘电压条件下不能超过 5pC 放电量，以确保产品在正常工作环境中不会发生局部放电现象。 

局部放电测试仪主要针对高压光耦合器、高压继电器及高压开关等高绝缘耐受能力的元件，提供高压的耐压测试与局部放电侦测，确保产品品质并提升产品可靠度。

特点

单机内置交流耐压测试与局部放电侦测功能。

 可程式交流耐压输出为 0.1kVac~10kVac。 

高精度及高分辨率电流表，测量范围为 0.01µA~300µA。 

局部放电（PD）侦测范围为 1pC~2000pC。 

具备高压接触检查功能（HVCC）。 

符合 IEC60747-5-5、VDE0884、IEC 60270 法规测试要求。 

内置 IEC60747-5-5 测试方法。 量测与显示单元分离式设计。 

三段电压测试功能。 PD 测量结果以数值显示（pC）。 

可设定 PD 不良发生次数判定（1~10）。 

多语系操作界面，包括繁中、简中、英文。 

具备 USB 画面截取功能。 图形化辅助编辑功能。 

标准 LAN、USB、RS232 远程控制接口。